光学电子

法国艾尔迪姆(ELDIM)简介

来自法国的艾尔迪姆(ELDIM)公司，原隶属LETF(法国原子能授权电子实验室)，自1991年独立组建以来一直致力于将即时补捉核裂变产生的光谱技术广泛应用于光电商业领域检测设备的研发, 其产品涵盖冷却式数码光学传感器、影像光度计、色度计等各种可扩展式检测系统。 

艾尔迪姆产品基于高精度的ccd冷却式数字光学传感器，凭借独有的光学理论，先进的软件技术，友好的操作界面，为众多客户提供更快速、更简捷的测试解决方案。

美国CRAIC简介

       美国CRAIC公司是研究及生产显微分光光度分析系统的领导者。美国CRAIC公司生产的显微分光光度分析系统采用了科研级显微镜，科研级图像采集探测器及科研光谱分析仪。

      CRAIC公司是目前世界上唯一使用科研级制冷数码图像采集探测器的显微分光光度分析系统生产商。

      CRAIC显微分光光度计分析系统结合了显微学及光谱学的优势，是一种科研非破坏性测量微小样品（最小可到1微米），目前已广泛用于生物、化工、材料、地矿、刑侦、制造业等领域。

新产品介绍：20/30 PV 显微分光光度计 

最新的20/30 PV显微分光光度计为紫外-可见-近红外显微光谱学设定了一个新的标准。使用最前沿技术的20/30 PV不仅可以让用户测试微米级样品的吸收、反射、拉曼、荧光激发或其他光源类型下的光谱，还同时提供了数字成像功能。光谱测试的范围从深紫外到近红外，同时也提供全波段的成像。具备先进的光谱及图像分析软件、自动化的参数设置、简单易用、能长时间稳定工作等优良特性。20/30 PV是工厂产品检测以及实验室样品分析的完美工具。

20/30 PV集成了紫外－可见－近红外光谱仪、拉曼光谱仪、成像系统于一身，同时光谱仪和数字成像系统都使用了最新的显微镜光路系统。高灵敏度的固态阵列检测器件使用了热电制冷的方式提高了器件的信噪比，并保证设备能长时间稳定地工作。高分辨率的数字成像系统在用于紫外、近红外以及可见光波段的彩色成像。多种类型的光源包提供了从深紫外到近红外的光源，类型包括透射光、反射光、荧光等，偏振光和拉曼激光也可以根据用户需求提供。精巧的软件不仅可以控制显微镜、光谱仪和数字成像系统，还同时提供了先进分析功能，甚至包括薄膜厚度测量。

20/30 PV 是微米级显微分光光度计最顶尖的代表。

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